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金属探测器应用中技术秘籍


发布时间:2011年6月15日 23时14分


金属探测器的大部分高频磁场位于检测机的检测头外壳内,但是不可避免的会有部分磁场通过检测机开口泄漏。正是由于磁场泄漏对周边金属制品产生影响,从而对检测机的性能产生影响,导致检测功能不稳定。
 
  为了确保金属检测的最佳效果,应当确保检测器开口的周边区域,即:“无金属区”无任何金属存在。“无金属区”的面积取决于开口高度、检测器类型及操作灵敏度。与动态金属相比,可将静态金属放在更为接近检测器的位置。

  “无金属区”通常在制造商的安装说明中进行说明。静态金属的典型引用值为1.5%开口高度,动态金属的典型引用值为2.0%开口高度。在安装期间对此进行适当考虑可有助于确保金属检测性能的持续可靠性。
如果空间有限(如:传送带系统过短)或者在称重机与立式制袋-填充、封口制袋机之间进行安装,则需要在较小的无金属区内使用特殊装置。这被称为“零非金属区”技术。

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